關(guān)于本試驗的合格判斷：

      如果每一個(gè)試驗樣品達到以下各項判斷，則認為該組件設計通過(guò)了鑒定試驗，也通過(guò)了定型。

      A 在標準測試條件下，組件的最大輸出功率的衰減在每個(gè)單項試驗后不超過(guò)規定的極限，每一組試驗          程序后不超過(guò)規定值的8%；

      B 在試驗過(guò)程中，無(wú)組件呈現開(kāi)路或接地故障現象；

      C 無(wú)第7章中定義的任何嚴重外觀(guān)缺陷；

      D 全部試驗完以后，仍滿(mǎn)足絕緣測試要求；

      E 組件的扭曲試驗從開(kāi)始到結束貫串整個(gè)過(guò)程，并在濕-熱試驗之后；

      F 個(gè)別試驗會(huì )有一些特殊的要求。

      如果兩個(gè)或兩個(gè)以上組件達不到上述判據，該設計將視為達不到鑒定要求。如果一個(gè)組件未通過(guò)任一項試驗，取另外兩個(gè)滿(mǎn)足第3章要求的組件從頭進(jìn)行全部相關(guān)試驗程序的試驗。假如其中的一個(gè)或兩個(gè)組件都未通過(guò)試驗，該設計被判定達不到鑒定要求。如果兩個(gè)組件都通過(guò)了試驗，則該試驗被認為達到鑒定要求。

      關(guān)于此實(shí)驗的報告：

      通過(guò)定型之后，試驗機根據ISO/IEC 17025電子元器件質(zhì)量評定體系程序給出鑒定實(shí)驗報告證書(shū)，該證書(shū)應包括測定的性能參數，以及任何第一次試驗未通過(guò)測試和重新試驗的詳細情況。所有的證書(shū)或試驗報告必須至少包含下列各項信息：

      A 證書(shū)或報告的名稱(chēng)；

      B 測試實(shí)驗室的名稱(chēng)和地址，以及測試進(jìn)行的地點(diǎn)；

      C 確認證書(shū)或報告的每一業(yè)都有特別的序號；

      D 客戶(hù)的名稱(chēng)和地址；

      E 對測試的項目進(jìn)行說(shuō)明和確認；

      F 測試項目的性能參數和測試條件；

      G 測試開(kāi)始的日期和測試進(jìn)行的日期；

      以上就是本章的上半部分，若想知道本章的下半部分，就請關(guān)注小編的另一篇文章哦！